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판정 리포트 · 완료 2026-10-25 12:46

SiC 반도체 결함 판별 파장, 15년 만에 오류 규명

대체로 사실

요약
om/news_thumb/cc20e3524a874fb0b22701b370fcf3e5.jpg] 최종 판정: 대체로 사실
근거 — 직접 열람한 1차 출처 12건
  1. https://img6.yna.co.kr/etc/inner/KR/2026/10/23/AKR20261023131200052_01_i_P4.jpg`
  2. https://doi.org/10.1016/j.actamat.2026.122747`
  3. https://api.openalex.org/works/doi:10.1016/j.actamat.2026.122747`
  4. https://api.crossref.org/works/10.1016/j.actamat.2026.122747`
  5. https://webstore.iec.ch/en/publication/62933`
  6. https://www.sciencedirect.com/science/article/abs/pii/S1359645426008475
  7. https://www.researchgate.net/publication/32186499…
  8. https://pubs.aip.org/aip/apl/article/124/15/152109/3282226
  9. https://ouci.dntb.gov.ua
  10. https://www.canyam.com/en/article/…67046857
  11. https://img6.yna.co.kr/etc/inner/KR/2026/10/23/AKR20261023131200052_01_i_P4.jpg
  12. http://pimg3.daara.co.kr/kidd/photo/2026/10/23/thumbs/thumb_520390_1792719116_79.jpg
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