미국 반도체 업계를 충격에 빠뜨린 '불량률 30%' 주장은 1981년 보스턴에서 발표된 것으로 알려졌지만, 실제 사건은 1980년 워싱턴에서 발생한 것으로 확인됐다. 이 발표는 일본산 반도체의 불량률이 미국산의 4~6배인 사실을 공개하며 품질 혁신을 촉발했다.
HP 내부사 및 정부 문서, 당시 원고 3개 이상의 독립 출처로 확립된 사실에 따르면, 1980년 워싱턴에서 일본산 반도체의 불량률이 미국산의 4~6배인 점을 공개한 발표가 있었다. 이는 미국 반도체업계에 큰 충격을 줄 뿐 아니라, 품질 혁신을 촉발하는 계기가 되었다.
HP 내부사 자료에 따르면, 발표 당시 미국산 반도체의 불량률은 최대 1% 내외였으며, 일본산은 4~6% 수준이었다. 그러나 헤드라인에 등장한 '불량률 30%'는 1차 기록과 배치되는 과장으로, 공식 기록상 일본산 불량률이 4~6%임을 반영하지 못했다. 이는 수치 왜곡으로 인한 오해를 초래했다.
발표 장소·시점 표기(1981년 보스턴)는 최고 신뢰 기록(1980년 3월 워싱턴)과 불일치한다. 이는 발표 시점 오류로 인한 혼란을 야기했으며, SIA 결성을 HP 쇼크의 대응으로 서술한 내용도 오류로 확인됐다.
이 사건은 미국 반도체업계의 품질 혁신을 촉발하는 계기가 되었으며, 이후 반도체 산업의 글로벌 경쟁 구도를 바꾸는 데 기여했다. 다만, 핵심 수치와 세부 서술에 왜곡이 있는 글로, 부분 사실로 판정된다.